因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

山西硅石成分檢測體系包含三大類共12項核心指標(biāo)：

主成分分析：二氧化硅（SiO?）含量測定（基準(zhǔn)指標(biāo)）、游離二氧化硅定量

雜質(zhì)元素檢測：三氧化二鐵（Fe?O?）、氧化鋁（Al?O?）、氧化鈣（CaO）、氧化鎂（MgO）、氧化鉀（K?O）、氧化鈉（Na?O）含量測定

物理性能測試：粒度分布（D50/D90）、真密度測定、灼燒減量（LOI）分析、吸水率測試

檢測范圍

本檢測方案適用于山西省內(nèi)不同礦區(qū)產(chǎn)出的各類硅石原料及加工制品：

原礦樣本：石英巖、脈石英、石英砂巖等天然礦石

加工產(chǎn)品：硅微粉、熔融石英砂、高純石英砂等深加工材料

應(yīng)用領(lǐng)域：冶金輔料（75-85% SiO?）、玻璃原料（≥98.5% SiO?）、陶瓷坯體（93-97% SiO?）等不同品級需求

檢測方法

依據(jù)GB/T 14840-2010《工業(yè)硅化學(xué)分析方法》及ISO 9286:1997標(biāo)準(zhǔn)要求：

X射線熒光光譜法（XRF）：采用熔片法制樣測定SiO?主量成分，測量精度±0.3%

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：用于Fe、Al、Ca等微量金屬元素測定，檢出限0.001-0.01%

激光粒度分析儀法：依據(jù)GB/T 19077-2016進行干法/濕法粒度分布測試

高溫灼燒法：馬弗爐1000℃恒重測定灼燒減量

比重瓶法：按GB/T 23561.7-2009測定真密度值

檢測儀器

標(biāo)準(zhǔn)實驗室配置以下正規(guī)設(shè)備系統(tǒng)：

波長色散X射線熒光光譜儀：配備Rh靶X光管（4kW），晶體分光系統(tǒng)分辨率≤30eV

全譜直讀ICP光譜儀：配備CID探測器及自動進樣系統(tǒng)

激光衍射粒度分析系統(tǒng)：測量范圍0.02-2000μm，配備干濕法分散模塊

高溫箱式電阻爐：最高溫度1300℃，控溫精度±1℃

精密電子天平：量程220g/0.1mg級稱量精度

真空密度測定裝置：含恒溫水浴及真空脫氣系統(tǒng)

所有儀器均通過CNAS校準(zhǔn)認證并定期進行期間核查。實驗過程嚴(yán)格遵循GB/T 27404-2008《實驗室質(zhì)量控制規(guī)范》要求執(zhí)行三級質(zhì)量監(jiān)控體系。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件