微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-05-12
關(guān)鍵詞:綠松石檢測(cè)方法,綠松石檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),綠松石檢測(cè)案例
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
主成分分析:測(cè)定銅(Cu)、鋁(Al)、磷(P)等主要元素含量及比例
微量元素譜:檢測(cè)鐵(Fe)、鋅(Zn)、鋇(Ba)等特征元素的分布特征
顏色成因判定:區(qū)分天然致色與人工染色工藝的化學(xué)差異
優(yōu)化處理鑒別:識(shí)別浸膠、注塑、蠟充填等常見(jiàn)處理痕跡
物理參數(shù)測(cè)定:包含密度(2.60-2.90g/cm3)、硬度(5-6莫氏)、折射率(1.610-1.650)等基礎(chǔ)數(shù)據(jù)
結(jié)構(gòu)特征分析>:觀測(cè)鐵線(xiàn)分布形態(tài)及基質(zhì)結(jié)構(gòu)致密程度
包裹體鑒定:識(shí)別方解石、高嶺石等伴生礦物的存在形式
原石類(lèi):含圍巖標(biāo)本、風(fēng)化皮殼樣本及礦脈斷面樣品
雕刻件類(lèi):包含圓雕、浮雕及鏤空工藝制品的全維度檢測(cè)
鑲嵌首飾類(lèi):貴金屬鑲口與綠松石主體的分離式測(cè)試方案
優(yōu)化處理品:涵蓋扎克里法處理品、染色品及復(fù)合材料的鑒別
產(chǎn)地溯源樣本:湖北竹山、安徽馬鞍山、波斯礦區(qū)等典型產(chǎn)地的特征比對(duì)
仿制品鑒別:包括染色菱鎂礦、合成材料及玻璃仿制品的排除性檢驗(yàn)
X射線(xiàn)熒光光譜法(XRF):非破壞性定量分析主量元素組成
紅外吸收光譜法(FTIR):識(shí)別聚合物充填物的特征吸收峰
拉曼光譜技術(shù):微觀尺度解析礦物相組成及結(jié)構(gòu)缺陷
紫外-可見(jiàn)分光光度法:測(cè)定致色離子的電子躍遷特征譜帶
顯微放大觀察法:60-200倍立體顯微鏡下觀測(cè)表面結(jié)構(gòu)特征
靜水力學(xué)稱(chēng)重法:精確測(cè)定樣品密度值及其分布均勻性
激光剝蝕等離子體質(zhì)譜(LA-ICP-MS):微量元素指紋圖譜構(gòu)建技術(shù)
陰極發(fā)光技術(shù)(CL):揭示晶體生長(zhǎng)紋及后期改造痕跡的成像分析
X射線(xiàn)熒光光譜儀:配備Rh靶光源及硅漂移探測(cè)器系統(tǒng)
傅里葉變換紅外光譜儀:配置金剛石池ATR附件及低溫冷卻裝置模塊組
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件